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学会関係2026.03.20

2026春の応物で口頭発表しました。

2026春の応物で

シリコン結晶の表面粗さとX線回折の特性等に関する定量評価


というタイトルで、SiC砥粒の粒径とX線回折やCTの画像との関連について発表しました。

この記事を書いた人
Akio Yoneyama (Senior Researcher)
Akio Yoneyama

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