九州シンクロトロン光研究センター（SAGA-LS）
イメージング研究室
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九州シンクロトロン光研究センター（SAGA-LS）
イメージング研究室

研究業績

  • 研究業績
  • In-operando x-ray topography analysis of SiC metal_oxide_semiconductor field-effect transistors to visualize stacking fault expansion motions dynamically during operations
Journal of Applied Physics (2021)
In-operando x-ray topography analysis of SiC metal_oxide_semiconductor field-effect transistors to visualize stacking fault expansion motions dynamically during operations

著者

Kumiko Konishi,Ryusei Fujita,Keisuke Kobayashi,Akio Yoneyama,Kotaro Ishiji,Hiroyuki Okino,Akio Shima,Toru Ujihara

カテゴリ

原著論文